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布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500 先進(jìn)的臺(tái)式三維形貌計(jì)量設(shè)備 與放大倍率無(wú)關(guān)的業(yè)界好Z軸分辨率 高級(jí)自動(dòng)化功能，包含帶編碼器的XY軸樣品臺(tái)、自動(dòng)測(cè)頭傾斜和自動(dòng)亮度調(diào)整 更緊湊的氣動(dòng)減震臺(tái)設(shè)計(jì)
布魯克HysitronTS77 Select納米壓痕儀 Hysitron TS 77 精選是自動(dòng)化臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測(cè)試系統(tǒng)，可提供同類儀器的高性能、多功能和易用性,在納米至微米尺度上提供可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。 TS 77 精選 支持主流的測(cè)試模式，是定量納米壓痕、動(dòng)態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學(xué)性能成像的高性價(jià)比解決方案。
DEKTAK XT布魯克臺(tái)階儀/表面輪廓儀臺(tái)階儀主要用于材料表面的2D，3D測(cè)量，可以測(cè)試臺(tái)階高度，表面粗糙度；同時(shí)也適合材料表面溝槽深度的測(cè)試；能夠在微電子，半導(dǎo)體及化合物半導(dǎo)體，太陽(yáng)能、超高亮度發(fā)光二極管（LED）、OLED、ITO、微流控、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)表面形貌測(cè)量。Dektak臺(tái)階儀測(cè)量薄膜材料可以達(dá)到埃級(jí)重現(xiàn)性和1nm-1mm的測(cè)量范圍。
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