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TD1400回路電阻測(cè)試儀是一款專用于測(cè)量開關(guān)、斷路器、銅鋁母線等設(shè)備回路電阻、接觸電阻的便攜式儀器，準(zhǔn)確度等級(jí)有0.2級(jí)/0.5級(jí)兩種規(guī)格可選。參考標(biāo)準(zhǔn)：JJG 1052-2009《回路電阻測(cè)試儀檢定規(guī)程》。

BT4560電池阻抗測(cè)試儀產(chǎn)品概述 ● EIS 測(cè)量頻率：0.01 Hz ~ 1.05 kHz ● 同時(shí)測(cè)量阻抗、電壓和溫度 ● 搭配了便于研發(fā)使用的軟件 ● 數(shù)據(jù)與第三方等效電路分析軟件兼容 ● 生產(chǎn)線支持：LAN 接口和專用掃描儀 ● 已取得CSA 認(rèn)證

BT6075電池測(cè)試儀特點(diǎn)： ● 業(yè)界高精度的AC-IR、DCV測(cè)量功能 - AC-IR最高分辨率10 nΩ，5位半：出色的電阻測(cè)量分辨率和穩(wěn)定性 - DCV最高分辨率1 µV，7位半：可與高精度電壓計(jì)匹敵的電壓測(cè)量精度 ● 同時(shí)測(cè)量ΩV的真值：最快檢查時(shí)間12ms，保證穩(wěn)定性的同時(shí)檢測(cè)時(shí)間縮短一半 ● 適用于內(nèi)部電阻1mΩ以內(nèi)的大容量電池的生產(chǎn)線 - 用于出貨檢查的高精度分選：BT6075

BT6065電池測(cè)試儀特點(diǎn)： ● 業(yè)界高精度的AC-IR、DCV測(cè)量功能 - AC-IR最高分辨率10 nΩ，5位半：出色的電阻測(cè)量分辨率和穩(wěn)定性 - DCV最高分辨率1 µV，7位半：可與高精度電壓計(jì)匹敵的電壓測(cè)量精度 ● 同時(shí)測(cè)量ΩV的真值：最快檢查時(shí)間12ms，保證穩(wěn)定性的同時(shí)檢測(cè)時(shí)間縮短一半 ● 適用于內(nèi)部電阻1mΩ以內(nèi)的大容量電池的生產(chǎn)線 - 用于出貨檢查的高精度分選：BT6075

UNI-T優(yōu)利德UT5430交直流耐壓測(cè)試儀阻抗儀，集交流耐壓測(cè)試、直流耐壓測(cè)試、絕緣阻抗測(cè)試、交流接地阻抗測(cè)試及導(dǎo)通電阻測(cè)試五大功能于一體，交流耐壓測(cè)試高達(dá)5kV/100mA，絕緣阻抗測(cè)試高達(dá)6kV/50GΩ，電壓電流精度高達(dá)1%，分辨率高達(dá)1V/0.1nA, 測(cè)量速度最快僅需0.1s，整機(jī)采用多重安全保護(hù)設(shè)計(jì)，可高精度、快速、安全地對(duì)電子設(shè)備和元件進(jìn)行多種電氣參數(shù)測(cè)試分析。

UNI-T優(yōu)利德UT5451交直流耐壓測(cè)試儀阻抗儀，集交流耐壓測(cè)試、直流耐壓測(cè)試、絕緣阻抗測(cè)試、交流接地阻抗測(cè)試及導(dǎo)通電阻測(cè)試五大功能于一體，交流耐壓測(cè)試高達(dá)5kV/100mA，絕緣阻抗測(cè)試高達(dá)6kV/50GΩ，電壓電流精度高達(dá)1%，分辨率高達(dá)1V/0.1nA, 測(cè)量速度最快僅需0.1s，整機(jī)采用多重安全保護(hù)設(shè)計(jì)，可高精度、快速、安全地對(duì)電子設(shè)備和元件進(jìn)行多種電氣參數(shù)測(cè)試分析。

UNI-T優(yōu)利德UT5440交直流耐壓測(cè)試儀阻抗儀，集交流耐壓測(cè)試、直流耐壓測(cè)試、絕緣阻抗測(cè)試、交流接地阻抗測(cè)試及導(dǎo)通電阻測(cè)試五大功能于一體，交流耐壓測(cè)試高達(dá)5kV/100mA，絕緣阻抗測(cè)試高達(dá)6kV/50GΩ，電壓電流精度高達(dá)1%，分辨率高達(dá)1V/0.1nA, 測(cè)量速度最快僅需0.1s，整機(jī)采用多重安全保護(hù)設(shè)計(jì)，可高精度、快速、安全地對(duì)電子設(shè)備和元件進(jìn)行多種電氣參數(shù)測(cè)試分析。

UT5400系列UT5452交直流耐壓測(cè)試儀阻抗儀，集交流耐壓測(cè)試、直流耐壓測(cè)試、絕緣阻抗測(cè)試、交流接地阻抗測(cè)試及導(dǎo)通電阻測(cè)試五大功能于一體，交流耐壓測(cè)試高達(dá)5kV/100mA，絕緣阻抗測(cè)試高達(dá)6kV/50GΩ，電壓電流精度高達(dá)1%，分辨率高達(dá)1V/0.1nA, 測(cè)量速度最快僅需0.1s，整機(jī)采用多重安全保護(hù)設(shè)計(jì)，可高精度、快速、安全地對(duì)電子設(shè)備和元件進(jìn)行多種電氣參數(shù)測(cè)試分析。